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高低溫試驗箱對于芯片測試的方法和意義介紹
日期：2025-07-01 18:15
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摘要：高低溫試驗箱具備高溫，低溫，常溫等不同溫度的設定，在芯片行業(yè)廣泛用于老化測試，今天海銀試驗裝備分享高低溫試驗箱對于芯片測試的方法和意義介紹。
高低溫試驗箱對于芯片測試的方法和意義介紹
高低溫試驗箱具備高溫，低溫，常溫等不同溫度的設定，在芯片行業(yè)廣泛用于老化測試，今天海銀試驗裝備分享高低溫試驗箱對于芯片測試的方法和意義介紹。
芯片包裝后，將被送往*終測試:在高低溫試驗箱中設定不同溫度，在不利環(huán)境下強制不穩(wěn)定的芯片無效。試驗過程中，旋轉機內的高速運動會使焊接接頭與焊接墊片機械結合不牢固。溫度過高會加速電子元件的失效。晶片*終會被放入特別的擱板，在正常運行數(shù)天后，這就是所謂的老化試驗。一些微處理器芯片在預設頻率下無法工作，但它們可以在較低頻率下正常工作，因此它們被用作低價低速處理器芯片。老化測試成功的芯片可以賣給客戶。公司主要客戶為電子行業(yè)，合格的芯片將應用于電子系統(tǒng)電路板。
海銀試驗裝備在芯片測試行業(yè)，有著廣泛的客戶群體，能給予芯片行業(yè)的測試需求，進行老化方案的制定和高低溫試驗箱的定制。
好了，今天就分享高低溫試驗箱對于芯片測試的方法和意義介紹到這里，感謝大家的學習和參考。